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升降溫速率可以調節(jié)試驗箱適用于航空航天產品，通訊產品，信息電子儀器儀表，工業(yè)材料，零配件，電子產品，各種電子元器件等物品做應力篩選試驗。
升降溫速率可以調節(jié)試驗箱符合標準：
GJB/150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗。
GJB/150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗。
GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則。
GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗。
GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）。
GJB/150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗。
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫。
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫。
GB/T 2423.22-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化。
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術條件；GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件。
產品&規(guī)范 | 廠商名稱 | 高溫 | 低溫 | 溫變率 | 循環(huán)數 | 循環(huán)時間 | 備注 |
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 電子產品應力篩選 | —— | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 5℃/min | 10～12 | 3h20min | —— |
MIL-344A-4-16 電子設備環(huán)境應力篩選 | 設備或系統 | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | —— | —— |
MIL-2164A-19 電子設備環(huán)境應力篩選方法 | —— | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 10℃/min | 10 | —— | 駐留時間為內部達到溫度10℃時 |
NABMAT-9492 美軍制造篩選 | 設備或系統 | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | —— | 駐留時間為內部達到溫度5℃時 |
GJB/Z34-5.1.6 電子產品定量環(huán)境應力篩選指南 | 組件 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | —— | 達到溫度穩(wěn)定的時間 |
GJB/Z34-5.1.6 電子產品定量環(huán)境應力篩選指南 | 設備或系統 | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | —— | 達到溫度穩(wěn)定的時間 |
筆記本電腦 | 主板廠商 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min | —— | —— | —— |
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